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  • 掃描電子顯微鏡 Quattro
    掃描電子顯微鏡 Quattro

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    更新時間

    2024-10-25

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    349

    產品描述

    ·Quattro掃描電鏡具有環(huán)境真空功能的極靈活、多功能高分辨率掃描電鏡
  • 掃描電子顯微鏡  MLA
    掃描電子顯微鏡 MLA

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    2024-10-25

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    產品描述

    MLA(MineralLiberationAnalyzer)是一套自動化礦物分析系統,能夠對巖心、顆?;驂K狀材料的拋光面進行礦物成分分析,并對眾多礦物特性進行量化分析,例如礦物豐度、顆粒粒度和解離度
  • Prisma E SEM用于材料科學的掃描電子顯微鏡
    Prisma E SEM用于材料科學的掃描電子顯微鏡

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    2024-10-25

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    產品描述

    新的Prisma環(huán)境掃描電子顯微鏡(SEM)結合了廣泛的成像和分析模式與全新的的自動化,以提供在同類儀器中的最完整的解決方案
  • 掃描電子顯微鏡  Explorer 4
    掃描電子顯微鏡 Explorer 4

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    2024-10-25

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    產品描述

    ·ExplorerTM4Analyzer是用于顆粒物分布統計過程控制的解決方案,幫助確定制造工藝是否受控、查找殺手級顆粒以及大批量顆粒表征
  • 掃描電子顯微鏡 Apreo 系列
    掃描電子顯微鏡 Apreo 系列

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    2024-10-25

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    產品描述

    ?Apreo革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術,可產生的高分辨率和信號選擇
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